脑瘤与电离辐射

  在现在知道的致病因素里，电离辐射是少数被确切证明和脑瘤出现有关的风险因素之一，不过关键就在“剂量”跟“暴露方式”。

  电离辐射有X射线、γ射线，在医学检查和肿瘤放疗里很普遍。当人体受到较高剂量辐射的时候，会对细胞DNA造成破坏，引发基因突变，这样就会让肿瘤出现的几率变大。这个过程常常要很长时间，脑瘤在辐射后好几年甚至十几年才出现。

  目前证据最足的情况，是小时候接受过头部放疗的人。比如白血病患儿在治疗的时候接受颅脑照射，长大后患脑膜瘤或者胶质瘤的风险明显变高。

  对于日常医疗里的低剂量辐射，比如CT检查，大多数人不用太担心。一次检查带来的风险特别低，比疾病本身的危害小多了。医生一般会权衡利弊，只有必要的时候才会建议做相关检查。

  儿童对辐射更敏感，要尽量避免不必要的重复检查。而对于曾经接受过头部放疗的人，建议长期随访，有必要的时候定期做MRI检查，这样能早点发现异常。

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